抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀原理與特點(diǎn)

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點(diǎn)擊量: 190675 來源: 寶應(yīng)縣高電電力設(shè)備制造廠
抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀原理與特點(diǎn)
介質(zhì)損耗測(cè)試儀原理:
在交流電壓作用下,介質(zhì)損耗測(cè)試儀要消耗部分電能,這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí),電介質(zhì)中的電壓和電流間存在相角差Ψ,Ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角,δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路(Cn)和一被試回路(Cx)。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線路組成,被試回路由被試品和測(cè)量線路組成。介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位等,再由單片機(jī)運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法,通過矢量運(yùn)算便可得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。
儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施,保證在外電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量。
介質(zhì)損耗測(cè)試儀特點(diǎn):
1. 超大液晶中文顯示
介質(zhì)損耗測(cè)試儀配備了大屏幕(105mm×65mm)中文菜單界面,屏顯分為左右兩部分,左邊為功能菜單區(qū),右邊為相關(guān)狀態(tài)信息提示,每一步都非常清楚,操作人員不需要專業(yè)培訓(xùn)就能使用。一次操作,微機(jī)自動(dòng)完成全過程的測(cè)量,是目前非常理想的介損測(cè)量設(shè)備。
2. 海量存儲(chǔ)數(shù)據(jù)
儀器內(nèi)部配備有日歷芯片和大容量存儲(chǔ)器,能將檢測(cè)結(jié)果按時(shí)間順序保存,隨時(shí)可以查看歷史記錄,并可以打印輸出;
3. 科學(xué)先進(jìn)的數(shù)據(jù)管理
儀器數(shù)據(jù)可以通過U盤導(dǎo)出,可在任意一臺(tái)PC機(jī)上通過我公司專用軟件,查看和管理數(shù)據(jù)并可生成工作報(bào)告。
4. 多種測(cè)試模式
儀器能夠分別使用內(nèi)高壓、外高壓、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、外標(biāo)準(zhǔn)、正接法、反接法、自激法等多種方式測(cè)試;在外標(biāo)準(zhǔn)外高壓情況下可以做高電壓(大于10kV)介質(zhì)損耗。
5. CVT測(cè)試一步到位
介質(zhì)損耗測(cè)試儀還可以測(cè)試全密封的CVT(電容式電壓互感器)C1、C2的介損和電容量,實(shí)現(xiàn)了C1、C2的同時(shí)測(cè)試。該儀器還可以測(cè)試CVT變比和電壓角差。
6. 高速采樣信號(hào)
儀器內(nèi)部的逆變器和采樣電路全部由數(shù)字化控制,輸出電壓連續(xù)可調(diào)。
7. 多重保護(hù)**可靠
1介質(zhì)損耗測(cè)試儀具備輸入電壓波動(dòng)、輸出短路、過壓、過流、溫度等多重保護(hù)措施,保證了儀器**、可靠。儀器還具備接地檢測(cè)功能,確保不接地設(shè)備不允許升壓。
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