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產品資料

WBLH-200J 高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本 型號:WBLH-200J

WBLH-200J    高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本  型號:WBLH-200J
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  • 產品名稱:WBLH-200J 高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本 型號:WBLH-200J
  • 產品型號: WBLH-200J
  • 產品展商:國產
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簡單介紹
WBLH-200J 高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本 型號:WBLH-200J 本儀器采用了渦流測厚方法,可*損的測量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導電覆層的厚度(如琺瑯、相交、油漆、塑料等)。內置打印機,可打印數據,有四個統(tǒng)計功能。
產品描述
高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本
型號:WBLH-200J
貨號:ZH6917

產品簡介
   本儀器采用了渦流測厚方法,可*損的測量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導電覆層的厚度(如琺瑯、相交、油漆、塑料等)。內置打印機,可打印數據,有四個統(tǒng)計功能。
測定方法:高頻渦流式
測定對象:非磁性金屬上*緣層
測定范圍:電磁式:0~800um或0~32.0mils
測定精度:<50um±1um  >50um±2%
分辨率:<100um 0.1um  >100um 1um
界限設定:可設定上/下限數值
測試單位:公/英制互換
顯示方式:LCD數顯
操作面板:密封*水按鍵
附屬品:鐵基體/鋁基體/校正標準片/電池/皮套/說明書
電源:DV3V 主機5#堿性電池×6個 打印機5#堿性電池×4個
體積:80(W)×80(D)×30(H)
重量:1100g

http://www.centrwin.com/ProductSearch.aspx?id=6917
WBLH-200J    高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本  型號:WBLH-200J
 


 
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